AFM雷电竞raybet6的主要構成可分為(wei) 五大塊：探針、偏移量偵(zhen) 測器、掃描儀(yi) 、回饋電路及計算機控製係統。

AFM雷电竞raybet6的探針長度隻有幾微米長，一般由懸臂梁及針尖所組成，主要原理是由針尖與(yu) 測試樣片間的原子作用力，使懸臂梁產(chan) 生微細位移，以測得表麵結構形狀，其中常用的距離控製方式為(wei) 光束偏折技術。

探針放置於(yu) 一彈性懸臂(cantilever)末端，一般由Si、SiO2、SiN4、納米碳管等所組成探針，。當探針的和樣品的表麵接觸非常近時，它們(men) 二者之間會(hui) 產(chan) 生一股作用力，其作用力的大小值會(hui) 隨著探針與(yu) 樣品間距離的大小變化而變化，使得懸臂發生彎曲或者偏移，用低功率雷射照射在懸臂末端上，利用感光二極管偵(zhen) 測器(Photodetector)來測量低功率雷射光所反射的角度變化。因此當探針掃描過樣品表麵時，反射的雷射光角度也會(hui) 發生變化，感光二極管的二極管電流也會(hui) 隨之不同。再由所測量初的電流變化，推算出懸臂被彎曲或歪移的程度，輸入計算機計算可產(chan) 生所測樣品表麵三維空間影像。

在測量樣品到係統計算出影像的過程中，探針和被測樣品間的距離始終保持在納米量級。距離太大則不能獲取到樣品表麵的信息，距離太小則會(hui) 損傷(shang) 探針和被測樣品表麵；回饋電路的作用就是在工作過程中，由探針得到探針與(yu) 樣品相互作用的強度，來改變加在樣品掃描器垂直方向的電壓，從(cong) 而使樣品伸縮，調節探針和被測樣品間的距離，反過來控製探針一樣品相互作用的強度，實現反饋控製。因此，反饋控製是本係統的核心工作機製。係統采用數字反饋控製回路，用戶在控製軟件的參數工具欄通過參考電流、積分增益和比例增益等幾個(ge) 參數的設置對該反饋回路的特性進行控製。

雷电竞raybet作為(wei) 自主研發AFM的雷电竞raybet6廠家，推出的掃描近場光學顯微鏡采用探針收集模式，用於(yu) 近場光譜及納米分辨成像。

配置清單：

1、激光器：半導體(ti) 激光器，波長：532nm，（ 635nm；800nm、405nm可選；）

2、光學顯微鏡聯用掃描近場光學顯微鏡係統；

3、采用光子計數器模塊或微光探測光電倍增管模塊，工作波長280nm-870nm；

4、近場探針波長響應範圍優(you) 於(yu) ：350-1000nm，探針近場可重複性大於(yu) 90% ；

5、配備10根孔徑90nm SNOM探針。
 

主要技術指標：

1、X-Y線性掃描範圍：50umX50um；

2、掃描台在Z方向的線性移動範圍：5um ；

3、樣品尺寸：小於(yu) 40mmX40mm；

4、樣品台水平移動範圍：6mmX6mm；

5、剪切力分辨率： Z方向1nm； XY方向10nm ；

6、光學分辨率：50-100nm，取決(jue) 於(yu) 探針質量；

7、Z方向步進距離：小於(yu) 200nm。

雷电竞raybet6係統

1、AFM成像功能包括：接觸式/輕敲模式/側(ce) 向力模式；

2、樣品掃描範圍：100umx100umx10um（WHD），三維全量程閉環控製掃描器， xyz非線性度小於(yu) 0.05%，xy方向掃描精度：0.2nm；z方向掃描精度 0.05nm；

3、數字化控製係統： XY采用18-bit D/A， Z采用16-bitD/A；

4、數據采樣：14-bit A/D、雙多路同步采樣。
 

掃描近場光學 雷电竞raybet6聯用係統：

主要部件：

掃描管：國外進口；

探針：國外進口；

激光器：國外進口；

光子計數器模塊/微光探測光電倍增管模塊：國外進口；

控製軟件：自主開發。